11月20日至21日，第五届中国分析测试协会高校分析测试分会青年部大会在武汉大学成功举办。此次大会由中国分析测试协会高校分析测试分会主办，武汉大学科研公共服务条件平台和湖北省电子显微镜学会联合主办，以“青年自强担使命，科技拓新创未来”为主题，旨在进一步推动青年分析测试工作者在相关领域的交流与合作。来自全国各地的知名院士、业界专家、青年骨干、厂商代表等超两百位嘉宾齐聚一堂，共同探讨和分享在仪器开放共享、技术培训、人员考核和激励机制、实验室管理等方面的经验和见解。

武汉大学校长助理陈慧东、何莲，中国科学院院士李景虹等高校领导专家莅临大会。开幕式由湖北省电子显微镜学会理事长、武汉大学科研公共服务条件平台主任王建波教授主持。武汉大学遥感信息工程学院党委书记雷敬炎、实验室与设备管理处处长毕卫民、采购与招投标管理中心主任金晶、科学技术发展研究院副院长徐箭、人事部副部长张宇宁、动力与机械学院巫世晶教授等领导出席会议。

王建波首先介绍了参加本次大会的领导、专家和嘉宾代表，对大家的到来致以热烈欢迎。今年恰逢武汉大学130周年校庆，也正值武汉大学科研公共服务条件平台前身武汉大学测试中心建立40周年，本次会议是对两个重要周年的献礼。随后简要介绍了武汉大学科研公共服务条件平台自2019年创立以来的建设发展历程及取得的一些成就，希望与会者通过会场内外的技术交流和思想碰撞，能够开阔眼界，共同领略技术的无穷魅力。

开幕式上，陈慧东致欢迎辞，他表示，大会旨在为青年分析测试工作者提供一个深化交流、分享经验、共谋未来的平台，共同探讨分析测试为高水平科技自立自强提供更有力支撑的新举措，希望大家能够充分利用这个机会，互相学习，共同进步，为分析测试领域的发展贡献自己更多的智慧和力量，为推动高校分析测试平台与技术发展、推动高水平科技自立自强而不懈努力。

李景虹作题为《表面等离子体电化学显微成像》的开场报告。来自重庆大学的周小元教授，武汉大学的袁荃教授、郑赫教授分别就“关于高校分析测试中心高质量发展的几点思考”“长余辉发光材料和微生物代谢”“原位原子尺度透射电子显微技术在材料表征中的应用”作主题报告。日本电子的袁建忠围绕日本电子最新透射电镜技术进展，以《赛默飞世尔科技的范超以颠覆认知，重塑可能——赛默飞Orbitrap Astral高分辨质谱引领组学革命》为题分享了最新前沿技术。

大会组织了9场分论坛，与会代表围绕技术创新、平台发展、协同育人、科研支持、社会服务等问题进行了论文报告，并展开了热烈研讨。厂商代表为与会者提供了最新的分析测试技术前沿信息。圆桌论坛环节，与会专家就公共平台高质量建设运行中青年人的角色定位、青年人的技术成长与公共平台考评体系、公共平台的激励措施以及相关的其他问题展开了讨论。此外，大会还安排了实地参观武汉大学科研公共服务条件平台的尖端科技楼，让与会者更直观地了解武汉大学大型科研仪器共享中心和科研支撑基地的运行和管理情况。参观结束后，与会者纷纷表示收获颇丰，对武汉大学科研公共服务条件平台的设施和管理给予了高度评价。

此次会议为青年分析测试工作者提供了一个展示自我、交流学习的平台，也为推动我国分析测试技术的进步注入了新的活力。省电子显微镜学会期待广大青年分析测试工作者在未来能够继续携手共进，发挥创新精神，以科技为引擎，推动分析测试事业不断向前发展，为科技进步和社会发展贡献自己的力量。